top
logo


JSM-5510 LV PDF Drukuj Email

 

 

 Mikroskopy wysokorozdzielcze SEM FEG z nowym

 

emiterem i gwarancją dostępne już od 500 tys. zł.

 

 

 

       

       SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY JSM-5510 LV

  1. Zakres zmiany napięcia przyspieszającego 0,3 kV – 30 kV,
  2. Rozdzielczość 3 nm dla detektora SE i 4 nm dla detektora BSE w trybie niskiej próżni (LV).
  3. Stolik próbek zmotoryzowany w osiach XYZ.
  4. Układ próżniowy całkowicie zautomatyzowany na bazie pompy rotacyjnej i dyfuzyjnej.
  5. Tryb nisko-próżniowy (Low Vacuum) zapewnia ciśnienie w komorze próbek w zakresie 1-270 Pa i pozwala na obserwacje nieprzewodzących elektrycznie próbek.
  6. Opcjonalna możliwość podłączenia mikroanalizatora EDS i innych aktualnie produkowanych przystawek.
  7. Wymagania instalacyjne: pomieszczenie o wymiarach min. 3m x 2m gdzie pole e-mag. jest mniejsze niż 3 mGs, zasilanie jednofazowe o mocy max.3 kVA, chłodzenie wodą 2 ltr/min
 

bottom