top
logo


JSM-6400 upgrade PDF Drukuj Email




Skaningowy mikroskop elektronowy

 

 JEOL JSM-6400 upgrade



teraz dostępny również z katodą LaB6 

 


oraz z nowym wysokorozdzielczym działem

 

TFE (Schottky Field Emission)

i 3 letnią gwarancją

 

 

Najważniejsze cechy urządzenia:

Zastosowane działo Schottky'ego i optyka elektronowa pozwalają na rejestrację obrazów o rozdzielczości punktowej lepszej niż 2 nm.

Szeroki zakres prądu wiązki 1pA - 100 nA.

Możliwość komfortowych obserwacji przy łagodnym dla próbki napięciu przyspieszającym 1kV.

Zakres powiększeń to: 10x do 600.000x.

Stolik eucentryczny o zakresach przesuwu X=70mm, Y=50mm, Z=5 to 48mm,T= -10° do 90°, R=360°

Komora preparatowa pozwala na instalację aktualnie produkowanych mikroanalizatorów:

· mikroanaliza składu pierwiastkowego z pomocą opcjonalnego detektora EDS,

· śladowa analiza składu pierwiastkowego WDS,

· określanie struktury krystalicznej EBSD,

· katodoluminescencja CL,

· fluorescencja rentgenowska XRF.

Mikroskop jest standardowo wyposażony jest w śluzę preparatową i cyfrowy rejestrator obrazów mikroskopowych

Trwała konstrukcja mechanicznych, próżniowych i elektronicznych układów pozwala na udzielenie 3 letniej gwarancji.

Niskie koszty wymiany działa oraz serwisu pogwarancyjnego.

 

 

więcej informacji tel. 604 453 928 


 

 

bottom